|
VOLUME 49 (1989) | ISSUE 5 |
PAGE 268
|
Туннельная микроскопия скола монокристалла YBa2Cu3O7-σ при 4,2 К
Прядкин С.Л., Цой B.C.
Разработана конструкция и изготовлен сканирующий туннельный микроскоп (СТМ)? позволяющий проводить скол образца и измерения при температуре жидкого гелия. Получены СТМ-изображения поверхности скола монокристалла YBa2Cu30?_ σ в сверхпроводящем состоянии. Обнаружено уменьшение величины Δ , определенной из туннельных вольт-амперных характеристик, при уменьшении расстояния между острием и образцом.
|
|