Микроконтактные измерения энергетической щели сверхпроводящих сверхрешеток на основе халькогенидов
Яносон И.К., Бобров Н.Л., Рыбальченко Л.Ф., Фисун В.В., Миронов О.А., Чистяков С.В., Сипатов А.Ю., Федоренко А.И.
Впервые с помощью микроконтактов исследована энергетическая щель сверхпроводящих полупроводниковых сверхрешеток PbTe-PbS как ниже критической температуры Тс 3,9 К, так и во флуктуационной области Τ > TQ. Обнаружено, что величина щели и ее термополевая зависимость определяются положением микроконтакта внутри сверхрешетки.