Home
| VOLUME 111 (2020) | ISSUE 9 | PAGE 597 |
|---|
|
Вклад структурных дефектов в интенсивность квазизапрещенных рентгеновских отражений алмаза: сравнение данных рентгеновской топографии и инфракрасной спектроскопии
А. А. Ширяев+*, Д. А. Золотов×, Е. М. Супрун°, И. Г. Дьячкова×, С. А. Ивахненко°, В. Е. Асадчиков×
+Институт физической химии и электрохимии им. А. Н. Фрумкина РАН, 119071 Москва, Россия *Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии (ИГЕМ) РАН, 119017 Москва, Россия ×Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, 119333 Москва, Россия °Институт сверхтвердых материалов им. В. Н. Бакуля НАН Украины, 04074 Киев, Украина
Abstract
Представлено дальнейшее развитие подхода к исследованию дефектов в совершенных кристаллах с алмазной решеткой на основе рентгеновской топографии в квазизапрещенном отражении 222. Для синтетических алмазов различных типов проведено сравнение пространственного распределения интенсивности рентгеновских отражений 111 и 222 с распределением точечных дефектов. Установлена перспективность использования рентгеновской топографии с использованием квазизапрещенного отражения 222 для исследования слабых напряжений в совершенных кристаллах. |