Home
For authors
Submission status

Archive
Archive (English)
Current
   Volumes 113-120
   Volumes 93-112
      Volume 112
      Volume 111
      Volume 110
      Volume 109
      Volume 108
      Volume 107
      Volume 106
      Volume 105
      Volume 104
      Volume 103
      Volume 102
      Volume 101
      Volume 100
      Volume 99
      Volume 98
      Volume 97
      Volume 96
      Volume 95
      Volume 94
      Volume 93
Search
VOLUME 111 (2020) | ISSUE 9 | PAGE 597
Вклад структурных дефектов в интенсивность квазизапрещенных рентгеновских отражений алмаза: сравнение данных рентгеновской топографии и инфракрасной спектроскопии
Abstract
Представлено дальнейшее развитие подхода к исследованию дефектов в совершенных кристаллах с алмазной решеткой на основе рентгеновской топографии в квазизапрещенном отражении 222. Для синтетических алмазов различных типов проведено сравнение пространственного распределения интенсивности рентгеновских отражений 111 и 222 с распределением точечных дефектов. Установлена перспективность использования рентгеновской топографии с использованием квазизапрещенного отражения 222 для исследования слабых напряжений в совершенных кристаллах.