Отклик на субмиллиметровое излучение СИНИС приемника с электронным охлаждением
А. А. Гунбина+*, С. А. Лемзяков×°, М. А. Тарасов∇, В. С. Эдельман×, Р. А. Юсупов∇
+Институт прикладной физики РАН, 603950 Н. Новгород, Россия
*Нижегородский государственный технический университет им. Р. Е. Алексеева, 603950 Н. Новгород, Россия
×Институт физических проблем им. П. Л. Капицы РАН, 119334 Москва, Россия
°Московский физико-технический институт (государственный университет), 141701 Долгопрудный, Россия
∇Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, 125009 Москва, Россия
Abstract
Экспериментально изучен отклик на субмиллиметровое излучение приемника,
сформированного на кремниевой подложке в виде метаматериала - матрицы 10×10
разрезных колец, соединенных туннельными структурами
сверхпроводник-изолятор-нормальный металл-изолятор-сверхпроводник (СИНИС).
При малых по сравнению со
сверхпроводящей щелью напряжениях электронная температура Te при температуре
подложки K равна 0.23 K из-за перегрева паразитным излучением,
при 0.3 K . В
обоих случаях при росте напряжения Te снижается из-за электронного охлаждения и
достигает 0.19 K при напряжении, соответствующем максимальному отклику. При
T=0.1 K отклик в 5-6 раз превышает отклик при K. Таким образом, электронное
охлаждение не обеспечивает такой же чувствительности приема, как и охлаждение
приемника в целом.