|
VOLUME 112 (2020) | ISSUE 6 |
PAGE 367
|
Вынужденная диффузия скоррелированных примесей в пайерлсовском проводнике o-TaS3
В. Е. Минакова, А. М. Никитина, С. В. Зайцев-Зотов
Институт радиотехники и электроники РАН, 125009 Москва, Россия
Abstract
Показано, что в ромбическом TaS3 с дефектами закалки
при изменении температуры в области ниже температуры
пайерлсовского перехода T<TP возникает вынужденная диффузия дефектов,
обусловленная их сильным взаимодействием
с волной зарядовой плотности (ВЗП).
Определены взаимосвязи между концентрацией дефектов закалки n и
пороговым полем начала скольжения ВЗП ET,
а также сдвигом TP, вызванным внесением дефектов:
и .
Такой набор законов соответствует
скоррелированному с ВЗП расположению дефектов по объему образца.
Обнаружена обычная (без термоциклирования) диффузия дефектов закалки
при К, оценены ее коэффициент диффузии и высота
энергетического барьера,
что позволило прояснить наиболее вероятную природу дефектов. Это -
примеси серы, внедренные во время закалки
в ван-дер-ваальсовскую щель между цепочками и при T <TP
частично упорядоченные благодаря взаимодействию с ВЗП.
Это упорядочение существенно понижает высоту
энергетического барьера вынужденной диффузии по сравнению с обычной диффузией
при изменении пространственной конфигурации ВЗП в ходе термоциклирования,
что приводит к появлению аномально высокой
низкотемпературной вынужденной мобильности скоррелированных примесей.
|
|