Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 81-92
   Volumes 61-80
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 41-60
      Volume 60
      Volume 59
      Volume 58
      Volume 57
      Volume 56
      Volume 55
      Volume 54
      Volume 53
      Volume 52
      Volume 51
      Volume 50
      Volume 49
      Volume 48
      Volume 47
      Volume 46
      Volume 45
      Volume 44
      Volume 43
      Volume 42
      Volume 41
Search
VOLUME 49 (1989) | ISSUE 11 | PAGE 630
Прямое определение фазы амплитуды отражения с помощью стоячих рентгеновских волн
Экспериментально реализован метод прямого определения фазы амплитуды отражения с использованием стоячих рентгеновских волн. Метод основан на измерении рентгеновского отражения и фотоэлектронной эмиссии при больших отклонениях от угла Брэгга. Решение фазовой проблемы позволило однозначно определить структуру реальных приповерхностных слоев монокристаллов. Развитый подход иллюстрируется на примере кристалла кремния после ионной имплантации.