Двумерный полуметалл в HgTe квантовых ямах толщиной 14 нм
Н. Н. Васильев+*, З. Д. Квон+*, Н. Н. Михайлов+, С. Д. Ганичев×
+Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова, 630090 Новосибирск, Россия
*Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия
×Регенсбургский университет, 93053 Регенсбург, Германия
Abstract
Обнаружен двумерный полуметалл в HgTe квантовой яме с ориентацией (013) и
толщиной d = 14 нм, существенно меньшей, чем ранее исследованные.
Установлено, что он характеризуется такой же величиной перекрытия зон,
как и ямы c d = (18 - 22) нм аналогичной ориентации, но значительно более
сильным примесным рассеянием как электронов, так и дырок. Измерено циклотронное
резонансное фотосопротивление (ЦР ФС) электронов в зависимости от их
концентрации (Ns) и показано, что амплитуда ЦР ФС падает при ее
уменьшении, а при Ns < 5•109 см-2 ЦР ФС не регистрируется. Таким
образом, в исследованном ДП отсутствует не зависящее от Ns ЦР ФС,
обнаруженное ранее в двумерном полуметалле у поверхности (100). Предположено, что этот факт
вызван значительно (более, чем на порядок) меньшей подвижностью электронов в
исследованной системе.