Влияние мощности излучения на модификацию осцилляций фототока в однобарьерных p-i-n GaAs/AlAs/GaAs гетероструктурах с InAs квантовыми точками
Е. Е. Вдовин, Ю. Н. Ханин
Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов РАН, 142432 Черноголовка, Россия
Abstract
Изучено влияние мощности падающего светового излучения на поведение
квантовых осцилляций фототока в однобарьерных p-i-n GaAs/AlAs гетероструктурах с InAs
квантовыми точками. Обнаружено резкое подавление начальных осцилляций с ростом
мощности, обусловленное деструктивным влиянием случайных флуктуаций потенциала,
порождаемых накоплением заряда на дырочных уровнях квантовых точек. Обнаружено
критическое влияние рекомбинации в области сильнолегированого p-слоя на
относительную величину осцилляций в диапазоне малых мощностей. При большой
мощности обнаружена генерация тока аналогичная наблюдавшейся в n-i-n резонансно-туннельных
структурах. Предложена новая качественная модель формирования
осцилляций, включающая, как основной элемент, диффузионный транспорт
фотовозбужденных электронов из p-слоя. Новая модель подтверждена также
измерениями осцилляций при разных длинах волн.