Диагностика наносистем с использованием ультракоротких рентгеновских импульсов: теория и эксперимент (Миниобзор)
М. К. Есеев, В. И. Матвеев, Д. Н. Макаров
Северный (Арктический) федеральный университет им. М. В. Ломоносова, 163002 Архангельск, Россия
Abstract
Рентгеноструктурный анализ (РСА) - это один из самых известных и
используемых методов исследования структуры вещества. Хорошо известно,
что рассеяние рентгеновских ультракоротких импульсов (УКИ) может быть
использовано в РСА. При рассеянии таких импульсов на различных
многоатомных объектах и наносистемах возникают дифракционные картины,
которые несут информацию не только о структуре объекта, но и о динамике
протекающих процессов в этом объекте. На сегодняшний день существует
техническая возможность создания мощных источников УКИ с фемо- и
аттосекудной длительностью импульса. Несмотря на это, в РСА при
использовании УКИ не всегда применяют новые теории,
учитывающие специфику взаимодействия таких импульсов с веществом. Учет
такой специфики приведет к лучшему раскрытию возможностей источников УКИ
и новым научным результатам. Здесь представлен миниобзор по рентгеновским
источникам УКИ, широко используемым методам и новым теориям РСА,
учитывающим специфику взаимодействия таких импульсов с веществом, а также
современным экспериментам с использованием УКИ.