Home
For authors
Submission status

Archive
Archive (English)
Current
      Volume 114
      Volume 113
      Volume 112
      Volume 111
      Volume 110
      Volume 109
      Volume 108
      Volume 107
      Volume 106
      Volume 105
      Volume 104
      Volume 103
      Volume 102
      Volume 101
      Volume 100
      Volume 99
      Volume 98
      Volume 97
      Volume 96
      Volume 95
      Volume 94
      Volume 93
Search
VOLUME 114 | ISSUE 7 | PAGE 444
Диагностика наносистем с использованием ультракоротких рентгеновских импульсов: теория и эксперимент (Миниобзор)
Abstract
Рентгеноструктурный анализ (РСА) - это один из самых известных и используемых методов исследования структуры вещества. Хорошо известно, что рассеяние рентгеновских ультракоротких импульсов (УКИ) может быть использовано в РСА. При рассеянии таких импульсов на различных многоатомных объектах и наносистемах возникают дифракционные картины, которые несут информацию не только о структуре объекта, но и о динамике протекающих процессов в этом объекте. На сегодняшний день существует техническая возможность создания мощных источников УКИ с фемо- и аттосекудной длительностью импульса. Несмотря на это, в РСА при использовании УКИ не всегда применяют новые теории, учитывающие специфику взаимодействия таких импульсов с веществом. Учет такой специфики приведет к лучшему раскрытию возможностей источников УКИ и новым научным результатам. Здесь представлен миниобзор по рентгеновским источникам УКИ, широко используемым методам и новым теориям РСА, учитывающим специфику взаимодействия таких импульсов с веществом, а также современным экспериментам с использованием УКИ.