Связанные состояния короткодействующего дефекта на поверхности собственного антиферромагнитного топологического изолятора в неколлинеарной фазе
В. Н. Меньшов+*, Е. В. Чулков*×
+Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", 123182 Москва, Россия
*Санкт-Петербургский государственный университет, 199034 С.-Петербург, Россия
×Departamento de Polímeros y Materiales Avanzados: Física, Quimica y Tecnologia, Facultad de Ciencias Quimicas,
Universidad del Pais Vasco UPV/EHU, 20080 San Sebastian/Donostia, Basque Country, Spain
Abstract
В данной работе теоретически исследуются особенности электронных состояний на
поверхности собственного антиферромагнитного топологического изолятора,
содержащего дефекты. Наш подход учитывает роль электростатического потенциала и вариацию
ориентации магнитных моментов в приповерхностных слоях. Описано изменение спектральных
характеристик поверхностных состояний при трансформации намагниченности из равновесной
антиферромагнитной фазы А-типа в ферромагнитную фазу через неколлинеарную текстуру.
Показано, что в антиферромагнитном топологическом изоляторе с
одноосной анизотропией, внешнее магнитное поле, приложенное вдоль легкой оси, может
вызвать значительную модуляцию величины обменной щели в спектре поверхностных состояний
и даже инвертировать ее знак. Моделируя влияние уединенного дефекта как возмущение
поверхностного потенциала на конечном масштабе, мы аналитически исследуем формирование
связанного состояния и его поведение в зависимости от силы потенциального и обменного
рассеяния на дефекте и ширины обменной щели. Продемонстрировано, что энергетический
уровень связанного состояния испытывает резкий сдвиг в окрестности спин-флоп перехода.
Полученные теоретические результаты позволяют дать последовательное объяснение недавних
экспериментальных данных по сканирующей туннельной спектроскопии антиузельных дефектов
на поверхности прототипного антиферромагнитного топологического изолятора
MnBi2Te4 во внешнем магнитном поле.