Медленная межзонная рекомбинация как причина аномального термоэлектрического отклика p-n переходов
А. С. Петров, Д. А. Свинцов
Московский физико-технический институт, лаборатория оптоэлектроники двумерных материалов,
141701 Долгопрудный, Россия
Abstract
Термоэлектрические эффекты в p-n переходах широко используются для
генерации энергии из градиентов температуры, создания компактных
охладителей Пельтье и, в последнее время, для чувствительного детектирования
инфракрасного и терагерцового излучения. Обычно предполагается, что
электроны и дырки, создающие термоэлектрический ток, находятся в
равновесии и имеют общий квази-уровень Ферми. Мы показываем, что
отсутствие межзонного равновесия приводит к аномальному знаку и величине
термоэлектрического напряжения, возникающего на p-n переходе.
Аномалии возникают при условии, что диффузионная длина неосновных
носителей заряда превышает размер горячего пятна на переходе. Нормальная
величина термоэлектрического напряжения частично восстанавливается, если
допускается межзонное туннелирование на p-n переходе. Предсказываемые
эффекты могут быть важны в криогенно охлаждаемых фотоодекторах на основе
двуслойного графена и квантовых ям CdHgTe.