|
|
| VOLUME 121 (2025) | ISSUE 12 |
PAGE 938
|
Структурные исследования реконструкции 2 × 2-(Bi,Mg) на поверхности Si(111)
М. В. Рыжкова+, С. Г. Азатьян+, Н. В. Денисов+, Д. А. Цуканов+*
+Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения РАН, 690041 Владивосток, Россия *Дальневосточный федеральный университет, 690922 Владивосток, Россия
Abstract
Методом расчета из первых принципов была исследована
кристаллическая структура поверхностной реконструкции Si(111)2 × 2-(Bi,Mg),
полученной в процессе адсорбции магния на поверхностную фазу
Si(111) -Bi. Установлен стехиометрический состав
элементарной ячейки поверхностной реконструкции 2 × 2. Исходя из
полученных расчетных значений энергии формирования, определены наиболее
стабильные структуры для двумерного сплава типа BiXMgY, Показано,
что структурная модель с конфигурацией X=2 и Y=4 хорошо согласуется с
результатами наблюдений реконструированной поверхности Si(111)2 × 2-(Bi,Mg),
полученными с помощью методов дифракции медленных электронов и
сканирующей туннельной микроскопии.
|
|