Резонансное неупругое рассеяние рентгеновских лучей на Fe L2,3-краях поглощения оксидов SrFeOx (x= 2.46 и 2.82)
В. Р. Галахов+ 1), К. Кюппер* 2)
+Институт физики металлов им. М. Н. Михеева Уральского отделения РАН, 620108 Екатеринбург, Россия
*University of Osnabrück, Department of Physics and Center of Physics and Chemistry of New Materials, 49076 Osnabrück, Germany
Abstract
Спектры резонансного неупругого рентгеновского рассеяния (RIXS)
на Fe L2,3-краях поглощения применены для изучения электронной
структуры SrFeO2.46 и SrFeO2.82.
RIXS-спектры SrFeO2.82, по сравнению со спектрами SrFeO2.46,
характеризуются менее интенсивными пиками упругой рекомбинации и менее
выраженными неупругими спектральными особенностями, что связано с с
меньшей степенью локализации d4+d5 L состояний по
сравнению с d5-состояниями. Особенности неупругого рассеяния RIXS-спектров
отнесены к возбуждениям d-d. При более высоких энергиях
возбуждения, где возбужденная в континуум флуоресценция становится
доминирующей, спектры рентгеновской эмиссии хорошо согласуются с
результатами измерения фотоэлектронных спектров валентных полос
как SrFeO2.46, так и SrFeO2.82.
Показано, что для интерпретации RIXS-спектров феррита SrFeO2.46 с
трехвалентными ионами железа, находящимися как в октаэдрах, так и в
тетраэдрах из ионов кислорода, можно использовать диаграммы Танабе-Сугано.