Излучение света туннельным контактом сканирующего туннельного микроскопа
Смольянинов И.И., Хайкин М.С., Эдельман B.C.
Реализован новый способ регистрации свехга, испускаемого туннельным контактом сканирующего туннельного микроскопа. Обнаружены резонансные особенности на зависимостях интенсивности света от приложенного напряжения для туннельных контактов Au-Au. Ag-Ag, Au-Pt и Ag-Pt, Эти особенности можно связать с возбуждением локализованных поверхностных плазмонов.