Кинетика захвата экситонов на мелкий примесный центр
Бланк А.Ю., Зиновьев Н.Н., Ковалев Д.И., Иванов Л.П., Ярошецкий И.Д.
Впервые исследовано связывание экситонов на мелкий примесный центр в полупроводниках (Si: В) и определены значения коэффициента захвата (8 · 10~8 см3/с). Изучена кинетика возмущения стационарного пространственного распределения экситонов в образце, вызванного неравновесными акустическими фононами.