Зависимость Т_с от плотности состояний в La2-xISrxCuO4 по данным ЭПР
Катаев В.Е., Грезнев Ю.С., Куковицкий Е.Ф., Тейтельбаум Г.Б., Бройер М., Кнауф Н.
На основе анализа спектров ЭПР ионов Gd3+, внедренных в качестве спиновых зондов в лантан-стронциевый металлооксид с различными концентрациями Sr найдено эмпирическое соотношение между Тс и плотностью состояний носителей тока на уровне Ферми N(EF),