Измерение спектра поглощения ИК излучения отрицательными зарядами в твердом гелии
Голов А.И., Межов-Деглин Л.П.
Наблюдено поглощение ИК излучения отрицательными зарядами в твердом гелии. Измерена зависимость положения линии, а также ее ширины и сечения поглощения от давления. Эксперимент подтверждает существующую пузырьковую модель электрона в твердом гелии. Определены и обсуждаются различные параметры этой модели.