Исследование поверхности палладия методом сканирующей туннельной микроскопии
Васильев С.И., Моисеев Ю.Н., Орешкин А.И., Орешкин С.И., Савинов С.В., Стыценко В.Д.
Проведено исследование поверхности палладия с атомным разрешением в контролируемой атмосфере газов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Дан сравнительный анализ поверхности образца палладия, прошедшего последовательную термическую обработку в атмосфере кислорода и водорода, с поверхностью необработанного палладия.