Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 81-92
   Volumes 61-80
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 41-60
      Volume 60
      Volume 59
      Volume 58
      Volume 57
      Volume 56
      Volume 55
      Volume 54
      Volume 53
      Volume 52
      Volume 51
      Volume 50
      Volume 49
      Volume 48
      Volume 47
      Volume 46
      Volume 45
      Volume 44
      Volume 43
      Volume 42
      Volume 41
Search
VOLUME 57 (1993) | ISSUE 11 | PAGE 712
Исследование пленки фуллерита по поверхности иридия методом ЭОС
Разработана методика создания в сверхвысоком вакууме потока молекул Cso и использована дня выращивания пленки фуллерита на иридии. С высоким разрешением (Δ.Ε/Ε ^ 0, 1%) снят оже-спектр углерода от фуллерита, который имеет характерную форму, отличную от оже-сиектров алмаза, монои поликристалла графита1 карбидов металлов, SiC. Молекулы С&о начинают десорбироваться с фуллерита при > 600К, а с иридия при > 900К с потоком, слабо зависящим от Т. При > 1200 К молекулы Сбо эффективно распадаются в адсорбированном слое на £г с образованием графита.