Элементный состав нанокластеров, формируемых импульсным облучением низкоэнергетическими ионами в процессе эпитаксии Ge/Si
А. В. Двуреченский, Ж. В. Смагина, В. А. Зиновьев, В. А. Армбристер, В. А. Володин, М. Д. Ефремов
Институт физики полупроводников Сибирского отделения РАН, 630690 Новосибирск, Россия
PACS: 61.14.Hg, 61.80.-x, 68.55.-a
Abstract
Методом комбинационного рассеяния света
экспериментально исследованы многослойные кремниевые структуры со
встроенными слоями нанокластеров Ge, сформированных импульсным
воздействием пучком низкоэнергетических собственных ионов в
процессе эпитаксии из молекулярных пучков. Установлено, что
ионно-стимулированное зарождение и последующий рост позволяют
получать нанокластеры Ge, практически не содержащие Si.