Исследование эффекта локализации поперечных оптических фононов GaAs в периодических структурах GaAs/AlxGa1-xAs со спаренными квантовыми ямами
Милехин А.Г., Пусеп Ю.А., Преображенский В.В., Семягин Б.Р., Лубышев Д.И.
Экспериментально исследован эффект локализации поперечных оптических фононов в слоях GaAs, разделенных ультра-тонкими барьерами AlxGai_xAs. Показано, что слой AlAs толщиной в 1 монослой является барьером для фононов GaAs, а слой AlxGai_xAs с χ < О,5 является проникающим.