Тонкая структура спектров термализованных фотоэлектронов, эмиттированных из GaAs с отрицательным электронным сродством
Терехов А.С., Орлов Д.А.
Спектры фотоэлектронов, эмиттированных из Г-долины GaAs с отрицательным электронным сродством, впервые измерены при 77 К-с разрешением 5 мэВ. Обнаружена тонкая структура спектров, обусловленная особенностями процессов эмиссии и термализации фотоэлектронов вблизи поверхности.
|