Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 81-92
   Volumes 61-80
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 41-60
      Volume 60
      Volume 59
      Volume 58
      Volume 57
      Volume 56
      Volume 55
      Volume 54
      Volume 53
      Volume 52
      Volume 51
      Volume 50
      Volume 49
      Volume 48
      Volume 47
      Volume 46
      Volume 45
      Volume 44
      Volume 43
      Volume 42
      Volume 41
Search
VOLUME 60 (1994) | ISSUE 10 | PAGE 691
Исследование поверхности кристалла LiFrFJ с субволновым пространственным разрешением
При облучении игл автоэлектронного микроскопа, изготовленных из кристаллов LiF:F^~, аргоновым лазером получены фотоэлектронные изображения острий игл с увеличением ~ 3-104. Изображения, полученные при облучении различными длинами волн лазера, существенно отличаются друг от друга, что позволяет говорить о реализации нового метода исследования поверхности — химически-селективной проекционной фотоэлектронной микроскопии. Полученные изображения анализируются в связи с результатами исследований лазерного селективного внешнего фотоэффекта в LiF:FJ" и других диэлектрических кристаллах.