Фононный вклад в плавление тонких пленок. ЯМР исследование дифенила
Чернов А.А., Квливидзе В.И., Дукова Е.Д., Баженов Д.В.
PACS: 64.70.Dv, 68.60.+q, 63.20.Dj
Тонкая пленка расплава на поверхности кристалла на ΔΓ = 0,1 40К ниже точки Г0 плавления его объема 1 6 зафиксирована на дифениле. Толщина пленки оказалась 00 АТ~ 1 Эффект объясняется дискретностью фононного спектра тонкой пленки.