Сверхпроводимость слоя микроскопических кристаллов-двойников
Хлюстиков И.Н., Хайкин М.С.
PACS: 74.70.Gj
При Т> Τ для монокристалла наблюден макроскопический ток текущий по шлифованному торцу образца Sn . Сверхпроводимость слоя толщиной ~ 4 · 10~"4см объясняется наличием трехмерной решетки участков плоскостей двойникования < 301 > с расстоянием между ними 10"5 см. Сверхпроводимость "двумерного металла11 около таких плоскостей обнаружена ранее [ 1].Таким же методом обнаружена сверхпроводимость плоскостей двойникования < 101 > в двойнике iln.
Home
![](/ps/457/article_7235_800_head.png "При <i>Т> Τ </i>для монокристалла наблюден макроскопический ток текущий по шлифованному торцу образца Sn . Сверхпроводимость слоя толщиной ~ 4 · 10~"<sup>4</sup>см объясняется наличием трехмерной решетки участков плоскостей двойникования < 301 > с расстоянием между ними 10"<sup>5</sup> см. Сверхпроводимость "двумерного металла<sup>11</sup> около таких плоскостей обнаружена ранее [ 1].Таким же методом обнаружена сверхпроводимость плоскостей двойникования < 101 > в двойнике iln.")