Дифракция рентгеновских лучей и электрофизические свойства кристаллов
Афанасьев А.М., Ковьев Э.К., Фокин А.С.
PACS: 72.40.+w; 73.40.Lq; 78.70.Ck
Проведены исследования фотоэлектрической электродвижущей силы (фотоэдс), возникающей при облучении полупроводниковых кристаллов с ргс-переходом рентгеновскими лучами в условиях, когда последние испытывают дифракцию на кристаллической решетке.