Особенности плазменного отражения сильнолегированного Si (Li)
Венгалис Б.Ю., Кастальский А.А., Мальцев С.Б.
PACS: 72.30.
Обнаружена тонкая структура в спектрах плазменного отражения в сильнолегированном Si (Li ), указывающая на существование электронно-ионного "конденсата" с концентрацией 2-1020 и 1-10 20см" \
Home
![](/ps/525/article_8284_800_head.png "Обнаружена тонкая структура в спектрах плазменного отражения в сильнолегированном Si (Li ), указывающая на существование электронно-ионного "конденсата" с концентрацией 2-<b>10</b><sup>20</sup> и <b>1-10 <sup>20</sup> </b><b><i>см" \</i></b>")