'Понижение порога параметрической неустойчивости при инжекции в плазму электронного пучка
Громов С.Н., Пасечник Л.Л., Семенюк В.Ф.
PACS: 52.40.Mj; 52.35.En
Экспериментально показано, что введение в плазму электронного пучка малой плотности позволяет значительно снизить порог параметрической неустойчивости и увеличить отбор энергии от внешнего высокочастотного (ВЧ) поля накачки.