Самоформирование системы высокоупорядоченных наноостровков германия при эпитаксии на профилированные кремниевые (111) подложки в условиях электропереноса
И. В. Закурдаев, С. Ю. Садофьев, А. О. Погосов*
Рязанская государственная радиотехническая академия, 391000 Рязань, Россия
*Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, 117924 Москва, Россия
PACS: 61.46.+w
Abstract
При помощи атомно-силового микроскопа проведено исследование
топографии поверхности SiGe структур, сформированных при эпитаксии Ge
на профилированные подложки Si(111) в условиях электромиграции. Получены
системы высокоупорядоченных наноостровков германия размерами (10-20) нм
и плотностью 6•1010 см-2. Показана принципиальная возможность
управляемого воздействия на геометрические параметры самоорганизующихся
наноостровков за счет выбора условий формирования и послеростового отжига
структур.