Линии Косселя для предельно асимметричных схем дифракции
А. М. Афанасьев*, М. В. Ковальчук, М. А. Чуев*
Институт кристаллографии РАН, 117333 Москва, Россия
*Физико-технологический институт РАН, 117218 Москва, Россия
PACS: 61.10.Dp
Abstract
Теоретически показано, что распределение интенсивности в пределах
линии Косселя, соответствующей резко асимметричной схеме дифракции
рентгеновских лучей, имеет аномальную форму сильно выраженного пика,
превышающего фоновую интенсивность в сотни раз. Проанализированы возможности
экспериментального наблюдения этого явления.