|
VOLUME 73 (2001) | ISSUE 8 |
PAGE 430
|
Исследование влияния температуры на периоды полураспада долгоживущих изомеров 180mHf и 87mSr
В. Г. Алпатов, Ю. Д. Баюков, А. В. Давыдов, Ю. Н. Исаев, Г. Р. Карташов, М. М. Коротков, В. М. Самойлов
Государственный научный центр Российской федерации "Институт теоретической и экспериментальной физики", 117259 Москва, Россия
PACS: 21.10.Tg
Abstract
Описаны эксперименты по измерению периодов полураспада
долгоживущих изомеров 180mHf и 87mSr при комнатной
температуре и при 77 К с использованием массивных образцов HfO2,
Sr(NO3)2 и SrCO3. Изомерные состояния соответствующих ядер
образовывались при облучении образцов нейтронами от Pu-Be-источника.
Согласно теории В. И. Высоцкого и др., окружение γ -активных ядер
большим количеством тех же ядер в основном состоянии должно приводить к росту
T1/2 вследствие искажения спектра нулевых электромагнитных вакуумных
колебаний вблизи значения энергии ядерного уровня. Снижение температуры
образца ведет к сужению γ -линий, особенно для мессбауэровских
низкоэнергичных переходов, что усиливает резонансное влияние на спектр
нулевых колебаний. Для изомера 180mHf, в верхнем γ -переходе
которого уносится энергия 57.55 кэВ, наблюдалось при охлаждении образца
увеличение T1/2 на . В случае 87mSr, не
имеющего в схеме распада мессбауэровских γ -линий, относительное
изменение T1/2 оказалось равным .
|
|