Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 81-92
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 61-80
      Volume 80
      Volume 79
      Volume 78
      Volume 77
      Volume 76
      Volume 75
      Volume 74
      Volume 73
      Volume 72
      Volume 71
      Volume 70
      Volume 69
      Volume 68
      Volume 67
      Volume 66
      Volume 65
      Volume 64
      Volume 63
      Volume 62
      Volume 61
Search
VOLUME 78 (2003) | ISSUE 9 | PAGE 1036
Влияние нулевых аномалий в электронной плотности состояний электродов на спектр неупругого туннелирования
PACS: 73.40.-c
Abstract
Показано, что минимум в электронной плотности состояний одного из электродов, расположенный вблизи поверхности Ферми, сдвигает пики в спектре неупругого туннелирования в сторону больших напряжений. Найдено, что величина сдвига зависит от значения корреляционного параметра и возрастает с увеличением температуры. Утверждается, что лишь совместное наблюдение сдвига локальных особенностей неупругого туннелирования и наличие широкомасштабной нулевой аномалии в дифференциальной проводимости может служить достаточно убедительным доказательством существования соответствующей особенности в электронной плотности металлооксидных и магниторезистивных материалов.