Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 61-80
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 81-92
      Volume 92
      Volume 91
      Volume 90
      Volume 89
      Volume 88
      Volume 87
      Volume 86
      Volume 85
      Volume 84
      Volume 83
      Volume 82
      Volume 81
Search
VOLUME 81 (2005) | ISSUE 4 | PAGE 180
Экранировка заряда микрочастицы в плазме с внешним источником ионизации
PACS: 52.27.Lw
Abstract
Создана асимптотическая теория экранировки заряда пылевой частицы в плазме с внешним источником ионизации газа. Аналитически установлено, что в общем случае экранирование заряда микрочастицы, адсорбирующей заряд падающих на нее заряженных частиц плазмы, не описывается дебаевской теорией. Радиус экранирования определяется соотношением между коэффициентами электрон-ионной βei и ланжевеновской βL=4π eki рекомбинаций (ki - подвижность ионов) и при выполнении условия \beta_L \gg \beta_{ei} радиус экранирования становится значительно больше электронного дебаевского радиуса. Установлено, что в изотермической плазме ионная компонента дает одинаковый вклад с электронами в экранировку при выполнении условия, что коэффициент электрон-ионной рекомбинации в два и более раз превышает ланжевеновский коэффициент рекомбинации ионов \beta_{ei}\geq 2\beta_L.