Обнаружение параметрического рентгеновского излучения умеренно релятивистских протонов в кристаллах
Ю. Н. Адищев+, А. С. Артемов, С. В. Афанасьев, В. В. Бойко×, М. А. Воеводин, В. И. Волков, А. С. Гоголев+, В. Н. Забаев+, А. Н. Ефимов, Ю. В. Ефремов×, А. Д. Коваленко, Ю. Л. Пивоваров+, А. П. Потылицын+, С. В. Романов, Ш. З. Сайфулин, Е. А. Силаев×, А. М. Таратин, С. П. Тимошенков*, С. Р. Углов+
Объединенный институт ядерных исследований, 141980 Дубна, Московская обл., Россия
+НИИ Ядерной физики Томского политехнического университета, 634050 Томск, Россия
×Институт физико-технических проблем, 141980 Дубна, Московская обл., Россия
* Московский государственный институт электронной техники, 124498 Москва, Зеленоград, Россия
PACS: 78.70.-g
Abstract
Зарегистрированы спектральные максимумы параметрического
рентгеновского излучения при взаимодействии умеренно релятивистских протонов с
различными кристаллами. Положения максимумов излучения в спектрах зависят от
угла ориентации кристалла и соответствуют теоретическим значениям. Измерения
выполнены c кристаллами кремния и графита на пучке протонов 5 ГэВ Нуклотрона
ЛВЭ ОИЯИ.