Неустойчивость междоузельных дислокационных петель в диэлектриках под электронным облучением
А. И. Рязанов, А. В. Клапцов
Российский научный центр "Курчатовский институт", 123182 Москва, Россия
PACS: 61.72.Cc, 61.80.Az, 61.82.Ms
Abstract
В экспериментах по электронному облучению
стабилизированного иттрием оксида циркония вблизи междоузельных
дислокационных петель наблюдалось возникновение сильных упругих
полей, которые росли по мере роста петель, и при достижении
петлями некоторого критического размера возникала неустойчивость
петель, связанная с началом пластической деформации и
образованием дислокационной сетки вблизи них.
Предложен механизм возникновения такой неустойчивости, связанный с
накоплением заряда на дислокационных петлях в диэлектрике за счет
ионизационных процессов под действием электронного облучения.
Показано, что накопление электрического заряда на дислокационных
петлях в процессе их роста в диэлектрике может приводить к
увеличению упругих напряжений вблизи дислокационных петель и их
неустойчивости, связанной с началом пластической деформации
вблизи петель при достижении величин напряжений на растущих петлях,
близких к теоретическому пределу текучести материала.