Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 61-80
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 81-92
      Volume 92
      Volume 91
      Volume 90
      Volume 89
      Volume 88
      Volume 87
      Volume 86
      Volume 85
      Volume 84
      Volume 83
      Volume 82
      Volume 81
Search
VOLUME 81 (2005) | ISSUE 10 | PAGE 610
Туннелирование рентгеновских фотонов через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения
PACS: 07.60.Hv, 07.85.Fv, 41.50.+h
Abstract
Экспериментально продемонстрировано туннелирование рентгеновских фотонов с длиной волны 0.154 и 0.139 нм через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения (ПВО). Пленка NiSi2 толщиной 13 нм наносилась магнетронным распылением на полированную подложку Si. Пучок с угловой расходимостью 20" направлялся на границу раздела Si/NiSi2 изнутри через боковую поверхность образца. Пик, обусловленный туннелированием фотонов из Si в воздух через пленку NiSi2, наблюдался при углах скольжения θ 1>0.4θ  c, где θ  c - критический угол ПВО на границе раздела Si/NiSi2. Интегральная интенсивность пиков туннелирования, измеренная при различных θ 1, согласуется с расчетными данными.