Критические явления в реконструкционном переходе β- (2× 4)→α- (2×4) на поверхности (001) GaAs
Ю. Г. Галицын, Д. В. Дмитриев, В. Г. Мансуров, С. П. Мощенко, А. И. Торопов
Институт физики полупроводников Сибирского отделения РАН, 630090 Новосибирск, Россия
PACS: 64.60.-i, 68.35.Bs
Abstract
Экспериментально определены критические индексы фазового
реконструкционного перехода β -(2×4)→
α -(2×4)
на поверхности (001)GaAs. Обнаружено, что фазовый переход (ФП)
аналогичен переходу Ван-дер-Ваальса. Экспериментально измерены
критические величины Tc, Pc, Θc. Применена теория
среднего поля, получены трехпараметрические изотермы,
согласующиеся с экспериментальными результатами при следующих
величинах параметров: Est=0.36 эВ, Δ E=0.18 эВ и
Ei=0.134 эВ. Проведены прецизионные измерения критических
показателей β и δ. Их значения β=1/8 и
δ=15 указывают, что ФП является истинно двумерным.