Латеральная локализация оптических фононов в квантовых островках GaAs
Ефремов М.Д., Володин В.А., Сачков В.А., Преображенский В.В., Семягин Б.Р., Болотов В.В., Галактионов Е.А., Кретинин А.В.
PACS: 63.20.Pw
Методом комбинационного рассеяния света (КРС) обнаружена латеральная локализация фононов в островках GaAs, формирующихся на поверхности (100) в условиях структурной реконструкции (2 χ 4). Триплетная структура пика, соответствующая латерально локализованным фононам, выявлена в спектрах КРС сверхрешетки GaAso.e/AlAse выращенной методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Сравнение теоретических спектров КРС, рассчитанных в приближении поляризуемости связи Волькенштейна, с экспериментальными спектрами позволило определить распределение островков по различным конфигурациям. Атомарная конфигурация островков совпадает с ранее известными результатами, полученными методом сканирующей туннельной микроскопии. Согласно расчетам, 70% островков содержат менее 18 атомов Ga, а латеральная локализация происходит при толщине барьеров AlAs в 2 монослоя и более.
|