Home
For authors
Submission status

Current
Archive (English)
Archive
   Volumes 81-92
   Volumes 41-60
   Volumes 21-40
   Volumes 1-20
   Volumes 61-80
      Volume 80
      Volume 79
      Volume 78
      Volume 77
      Volume 76
      Volume 75
      Volume 74
      Volume 73
      Volume 72
      Volume 71
      Volume 70
      Volume 69
      Volume 68
      Volume 67
      Volume 66
      Volume 65
      Volume 64
      Volume 63
      Volume 62
      Volume 61
Search
VOLUME 62 (1995) | ISSUE 3 | PAGE 252
Как увидеть атомное строение кристалла без микроскопа высокого разрешения
Метод электронной микроскопии высокого разрешения (ЭМВР) широко используется в последние годы для изучения атомного строения кристаллических материалов и дефектов кристаллической решетки. Возможности ЭМВР ограничиваются сферической абберацией, в результате чего даже лучшие микроскопы имеют разрешение не лучше 1-2А, то есть намного больше длины волны электронов, которая для характерных значений ускоряющего напряжения 0,1-1,0МэВ достигает соответственно 0,038 и 0,012А. Разрешение может быть повышено на полтора порядка, если вместо ЭМВР использовать динамические электронограммы и исследовать не только координаты рефлексов, но и закон убывания средней интенсивности рефлексов вдоль радиуса электронограммы (в первую очередь ширину электронограммы, определяющую ширину пиков блоховских волн на выходной поверхности просвечиваемой фольги). В качестве примера указывается разрешение порядка 0,10 А для золота, просвечиваемого вдоль < 111 >.