Структура и транспортные свойства сверхтонких пленок УYBa2Cu3O7-x
Варганов А.В., Вопилкин Е.А., Вышеславцев П.П., Дроздов Ю.Н., Ноздрин Ю.Н., Павлов С.А., Парафин А.Е., Таланов В.В.
Исследованы кристаллическая структура и транспортные свойства эпитаксиаль-ных с-ориентированных пленок УВагСизС^, при изменении толщины ВТСП слоя от 5 до 300 нм. Пленки получены методом лазерного напыления. При толщинах менее 30 нм пленки становятся преимущественно монодоменными в направлении оси с. Также при уменьшении толщины происходит уменьшение параметра орторомбич-ности решетки YBaCuO, что коррелирует с деградацией критической температуры, наблюдающейся для пленок тоньше 9нм. Полученная зависимость эффективного поверхностного СВЧ сопротивления YBaCuO пленки от ее толщины хорошо согласуется с результатом расчета в рамках локальной электродинамики при постоянной удельной СВЧ проводимости образцов. PACS: 74.76.Bz
Home
