Home
For authors
Submission status

Archive
Archive (English)
Current
      Volume 114
      Volume 113
      Volume 112
      Volume 111
      Volume 110
      Volume 109
      Volume 108
      Volume 107
      Volume 106
      Volume 105
      Volume 104
      Volume 103
      Volume 102
      Volume 101
      Volume 100
      Volume 99
      Volume 98
      Volume 97
      Volume 96
      Volume 95
      Volume 94
      Volume 93
Search
VOLUME 113 | ISSUE 2 | PAGE 126
О количественном сравнении LDA + DMFT и ARPES спектральных функций
Abstract
Появление фотоэмиссии с угловым разрешением (ARPES) позволило напрямую наблюдать дисперсию электронных состояний: карту спектральной плотности. С другой стороны, карта спектральной плотности может быть получена и теоретически, например, в методе LDA + DMFT. Электронная зона на такой карте характеризуется не только энергетическим положением в данной k-точке, но и шириной, и интенсивностью. Для иллюстрации количественного сравнения теоретических спектральных функций и ARPES данных выбраны спектральные функции, полученные в LDA + DMFT методе. Показано, что теоретические спектральные функции должны учитывать ряд экспериментальных особенностей: сечение фотоионизации, экспериментальное энергетическое и угловое разрешение, а также эффекты времени жизни фотодырки, возникающей в процессе фотоэмиссии. В данной работе представлена соответствующая методика учета указанных экспериментальных особенностей на примере высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) систем на основе железа: NaFeAs и FeSe на подложке SrTiO3.