Роли элементов гетероструктуры на основе топологической фазы Hg1-xCdxTe в эффекте PT-симметричной терагерцовой фотопроводимости
А. С. Казаков+, А. В. Галеева+, А. В. Иконников+, Д. Е. Долженко+, Л. И. Рябова*, Н. Н. Михайлов×, С. А. Дворецкий×, М. И. Банников°, С. Н. Данилов∇, Д. Р. Хохлов+°
+Физический факультет МГУ им. М. В. Ломоносова, 119991 Москва, Россия
*Химический факультет МГУ им. М. В. Ломоносова, 119991 Москва, Россия
×Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, 630090 Новосибирск, Россия
°Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия
∇Университет Регенсбурга, D-95053 Регенсбург, Германия
Abstract
В работе продемонстрировано, что PT-симметричная терагерцовая фотопроводимость,
наблюдаемая в гетероструктурах на основе толстых пленок Hg1-xCdxTe, находящихся в
топологической фазе, связана с фотовозбуждением носителей заряда в объеме пленки. В
то же время местом локализации эффекта является гетероинтерфейс топологическая
пленка - тривиальный буферный слой. Обсуждается модель, описывающая такое
пространственное разделение источника неравновесных носителей заряда и места
проявления эффекта.