|
VOLUME 116 (2022) | ISSUE 9 |
PAGE 616
|
Диаграммы Ванье для полупроводникового искусственного графена
О. А. Ткаченко+, В. А. Ткаченко+*, Д. Г. Бакшеев*, О. П. Сушков×
+Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, 630090 Новосибирск, Россия *Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия ×University of New South Wales, 2052 Sydney, Australia
Abstract
Промоделирован квантовый транспорт в
полупроводниковых гексагональных решетках антиточек с периодом 80 нм и
коротковолновым беспорядком.
Вычислены карты плотности состояний как функции от напряженности
магнитного
поля B и концентрации электронов n (диаграммы Ванье) для
нескольких амплитуд модуляции потенциала, сравнимых или существенно
больше энергии
Ферми. Глубокие провалы плотности состояний на картах имеют вид лучей
положительного, нулевого и отрицательного наклона. Помимо веера лучей,
разделяющих
первый и второй, второй и третий уровни Ландау, на картах есть лучи им
параллельные,
сдвинутые
по вертикали и горизонтали на целое число характерных значений
концентрации n0
и магнитного поля B0.
Показано, что знак и величина наклона лучей
соответствуют центрам плато квантованных холловских сопротивлений
Rxy.
Яркими проявлениями решетки на картах Rxy(n,B)
являются реплики первого и второго плато Rxy и осцилляции Rxy
между отрицательными и положительными значениями при фиксированном
магнитном
поле или концентрации, что говорит о смене дырочного и электронного типа
носителей.
|
|