Ультракороткие импульсы в структурном анализе алмазных слоев с NV-центрами
Д. Н. Макаров, М. К. Есеев, Е. С. Гусаревич, К. А. Макарова, М. С. Борисов
Северный (Арктический) федеральный университет имени М. В. Ломоносова, 163002 Архангельск, Россия
Abstract
Рентгеноструктурный анализ является одним из основных методов
определения строения кристаллических структур с использованием как
непрерывного рентгеновского излучения, так и ультракоротких импульсов.
Обычно ультракороткие импульсы применяются для наблюдения динамических
процессов в атомных и молекулярных системах. В данной работе показано,
что у ультракоротких импульсов может быть еще одно важное применение -
это определение межплоскостного расстояния в слоях алмаза с NV-центрами,
расстояние между которыми может составлять всего несколько
ангстрем. Полученные результаты имеют хорошую перспективу расширения на
более сложные структуры и как итог развития - это новый метод 3D
томографии с ангстремным разрешением.