JETP Letters: issues online

Изучен коэффициент прохождения терагерцового излучения через латеральную плазменную сверхрешетку с элементарной ячейкой, состоящей из двух областей с разными скоростями плазменных волн, s₁ и s₂ (s₁ > s₂). Обобщена теория, разработанная ранее для резонансного случая, на нерезонансный режим, в предположении, что темп релаксации, γ, велик по сравнению с фундаментальными частотами плазменных колебаний ω_1,2 в обеих областях. Описана эволюция коэффициента прохождения $\mathcal T$ с ростом частоты излучения, выявлено несколько режимов диссипации, построена общая диаграмма, описывающая эти режимы и найдены соответствующие аналитические выражения для $\mathcal T.$ Наиболее важный результат состоит в том, что $\mathcal T$ резко зависит от частоты ω и от напряжений на затворах, которые управляют скоростями s_1,2. В частности, для $\omega_2 \ll \omega_1$ прохождение $\mathcal T$ резко меняется в очень малом масштабе частот $\delta \omega \ll \gamma,$ определяемом максвелловской релаксацией $(\delta \omega \sim \omega_1^2/\gamma)$ , так что сверхрешетка демонстрирует очень высокую чувствительность в узком частотном интервале. Неожиданное появление узкого пика глубоко в нерезонансном режиме является универсальным явлением и может также наблюдаться в ряде других фотоэлектрических эффектов.