Фокусировка параметрического рентгеновского излучения
А. В. Щагин
Харьковский физико-технический институт, 61108 Харьков, Украина
PACS: 41.50.+h, 41.60.-m, 61.80.Cb, 61.85.+p
Abstract
Описана возможность фокусировки параметрического
рентгеновского излучения (ПРИ) без применения рентгеновской оптики. ПРИ
испускается релятивистскими заряженными частицами, движущимися в режиме
каналирования вдоль изогнутого кристалла. ПРИ, испускаемое со всей длины
изогнутого кристалла, фокусируется в двух точках на оси кривизны кристалла.
Приведено построение Гюйгенса для формирования сфокусированного ПРИ. Оценена
ширина спектрального пика этого излучения. Некоторые свойства
сфокусированного ПРИ оценены для типичных экспериментальных условий,
обсуждаются возможности его применения. Предложен эксперимент для наблюдения
сфокусированного ПРИ. Показано, что наблюдение сфокусированного ПРИ возможно
при энергии протонов порядка десятков и более ГэВ.